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Home > Products > SiC Substrate Wafer > 碳化硅衬底片 4英寸测试级SiC衬底晶片

碳化硅衬底片 4英寸测试级SiC衬底晶片

等级:测试级碳化硅晶片
厚度:350um;500um
尺寸:4英寸 6英寸
类型:4H-N导电型 ; 4H-SI半绝缘型

Product Description

苏州恒迈瑞材料科技作为碳化硅衬底片(SiC碳化硅晶片)的专业生产厂家,可提供测试级SiC碳化硅衬底晶片。产品尺寸主要有2英寸3英寸,4英寸及6英寸,类型分为导电型4H-N掺杂氮和半绝缘型4H-SI掺杂钒以及半绝缘型4H-SI非掺杂碳化硅晶片。碳化硅材料作为第三代半导体的主要代表之一,拥有禁带宽度大、器件极限工作温度高、临界击穿电场强度大、热导率等显著的性能优势,在电动汽车、电源、航天等领域备受欢迎,为众多产业发展打开了全新的应用可能性。

碳化硅晶片应用


恒迈瑞测试级SiC碳化硅衬底片规格



以SiC碳化硅为代表的第三代半导体具有禁带宽、热导率高,击穿场强高,饱和电子漂移速率高,化学性能稳定,硬度高,抗磨损,高键和高能量以及抗辐射等优点,可广泛用于制造高温,高频,高功率,抗辐射,大功率和高密集集成电子器件,用SiC碳化硅衬底开发的电力电子器件(SBD、MOSFET、IGBT、BJT、JFET等)用在输变电、风力发电、太阳能、混合动力汽车等电力电子领域,降低电力损失,减少发热量,高温工作,提高效率,增加可靠性。

碳化硅衬底的优势:

  • 碳化硅衬底与氮化镓(GaN)外延层的晶格常数匹配,化学特性相容;
  • 碳化硅材料热导率优秀(比蓝宝石高10倍以上)且与GaN外延层热膨胀系数相近;
  • 碳化硅是导电的半导体,可以制作垂直结构器件,其两个电极分布在器件的表面和底部,能解决蓝宝石衬底必须的横向结构封装带来的各种缺点;
  • 碳化硅衬底不需要电流扩散层,因此光不会被电流扩散层的材料吸收,这样又提高了出光效率。 

 

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