-
4inch 4H-N SiC Substrate Wafer
Silicon Carbide (SiC) Substrate
Diameter: 100±0.5mm
Thickness:350±25um
Doping : Nitrogen -
6 inch 4H-N SiC Substrate Wafer
Silicon Carbide (SiC) Substrate
Diameter: 150±0.2mm
Thickness:350±25um
Doping : Nitrogen -
4 inch Semi-insulating SiC Substrate
Silicon Carbide (SiC) Substrate
Diameter: 100±0.5mm
Thickness:500±25um
Doping : Un-doped -
6 inch 4H-SI SiC Substrate Wafer
Silicon Carbide (SiC) Substrate
Diameter: 150±0.2mm
Thickness:500±25um
Doping : Un-doped -
碳化硅衬底片 4英寸测试级SiC衬底晶片
等级:测试级碳化硅晶片
厚度:350um;500um
尺寸:4英寸 6英寸
类型:4H-N导电型 ; 4H-SI半绝缘型 -
4H-N/4H-SI 研究级碳化硅衬底晶片
等级:研究级碳化硅晶片
厚度:350um;500um
尺寸:4英寸 6英寸
类型:4H-N导电型 ; 4H-SI半绝缘型 -
碳化硅晶片 产品级SiC衬底晶片
等级:产品级碳化硅晶片
厚度:350um;500um
尺寸:4英寸 6英寸
类型:4H-N导电型 ; 4H-SI半绝缘型
-
碳化硅衬底晶片 超低MPD碳化硅晶片
等级:超低微管密度碳化硅晶片
厚度:350um;500um
尺寸:4英寸 6英寸
类型:4H-N导电型 ; 4H-SI半绝缘型
Home<<1
>>Last